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半导体封装测试厂 CMP 研磨废水电气智能化改造项目-1

半导体封装测试厂 CMP 研磨废水电气智能化改造项目

该半导体封装测试工厂,CMP 研磨产生大量含硅颗粒研磨废水,废水处理站处理规模 850m³/d,采用预处理‑陶瓷膜过滤工艺,处理后部分回用于生产。研磨废水悬浮物含量波动大,硅颗粒细小,容易造成膜元件污

  • 配套产品:PLC 控制柜、浊度 / 悬浮物在线仪表
  • 项目地址:江苏无锡半导体封装基地
  • 所属行业:半导体行业

项目概况

该半导体封装测试工厂,CMP 研磨产生大量含硅颗粒研磨废水,废水处理站处理规模 850m³/d,采用预处理‑陶瓷膜过滤工艺,处理后部分回用于生产。研磨废水悬浮物含量波动大,硅颗粒细小,容易造成膜元件污堵。原有废水站自动化水平不高,陶瓷膜清洗程序固定时间执行,不根据膜压差判断;混凝药剂人工手动调节投加,进水悬浮物变化时调节滞后,处理出水波动。在线监测仪表不足,浊度、膜压差数据采集不全;各个处理单元控制器分散,没有集中监控;泵、膜组缺少完备联锁保护。半导体封装工厂全年不间断生产,CMP 研磨废水需要连续处置;陶瓷膜耗材价格昂贵,错误操作会造成膜损伤。原有模式依靠人员大量现场操作抄表,故障依靠巡检发现,没有对接厂务监控系统。企业实施电气智能化改造,目标实现研磨废水全自动处理,预判膜污堵,稳定出水,减少人工,接入厂务平台,保护昂贵陶瓷膜组件。

定制解决方案

保留废水池、陶瓷膜撬装设备本体,升级 PLC 控制系统,新增浊度、悬浮物、膜压差、液位在线监测仪表。重构控制逻辑:提升泵跟随调节池液位联锁启停;混凝药剂根据进水浊度、悬浮物实现闭环自动投加;陶瓷膜过滤单元采用压差‑时间双重条件,自动执行产水、反洗、化学清洗流程;膜组压差过高提前发出污堵预警。完善泵、搅拌器联锁保护,液位高低限触发保护,故障自动切换备用膜单元。搭建废水站本地监控画面,完整展示 CMP 研磨废水全处理流程,高频存储压差、水质历史数据,建立膜污堵趋势预判,提前推送维护提醒。通过网关对接半导体厂务监控 FMCS 系统,厂务平台获取废水站全部工况;设置出水超标、膜压差超限、设备故障声光 + 短信告警。分撬装单元轮流停机调试,其余撬装维持废水处理,保障封装工厂废水不间断处置;仪表选用耐硅颗粒磨损型号。

项目运行成效和优势

改造之后,CMP 研磨废水处理系统实现全自动运行,药剂跟随进水悬浮物智能投加,出水水质稳定。陶瓷膜不再简单固定时间清洗,依靠压差‑水质条件触发清洗,系统可以预判膜污堵趋势,提前预警维护,有效减缓陶瓷膜污堵速率,延长昂贵陶瓷膜使用寿命,降低耗材更换成本。实现撬装单元故障自动切换,减少废水处理中断风险。运维人员不用频繁现场手动操作、抄表,降低现场工作量;异常情况自动告警,故障处置响应速度提升。废水站数据接入厂务 FMCS,厂务统一监管;完整保存膜压差、水质历史曲线,便于分析膜运行状态。整套改造保障半导体封装工厂 CMP 研磨废水稳定处置回用,降低运维与耗材成本,适配半导体工厂连续生产需求。

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